M-Z光学干涉仪
- 产品型号：
- 更新时间：2024-06-19
- 产品介绍：M-Z光学干涉仪通过比较被测物和参考物的相位（表现为条纹的变化），从而实现被测物的物理量的测量。
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产品介绍
M-Z光学干涉仪产品说明：
马赫-曾德干涉仪属于一种等光程比较干涉。通过比较被测物和参考物的相位（表现为条纹的变化），从而实现被测物的物理量的测量。马赫-曾德干涉仪通常用于测量透明介质折射率的微小变化，可用于气体、液体、透明固体、冲击波及热传导等方面的研究。
M-Z光学干涉仪技术参数：
参数 | 大值 | 小值 | 备注 |
视场 | Φ500mm | Φ50mm | |
干涉条纹间距 | 无穷大 | 0.1mm | |
图像分析软件 | 满足干涉条纹背景滤波、二值化、细化与修像、标记、采样读数、物理参数计算读取等功能 | ||
成像传感器 | 数码单反相机、高速相机、记录干板 | ||
光源 | 532nm激光光源、632.8nm激光光源 | ||
其他 | 系统采用有效的减振方式 | ||
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